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叶片高精度扫描检测 | Leitz Reference BX 白光共聚焦叶片检测

随着航空航天产业发展,对于高精度叶片的质量保证提出了全新的挑战——兼顾检测效率与精度要求的方案呼之欲出。

Leitz Reference BX测量方案专为航空发动机叶片检测设计,它结合了光学和接触式测量,高效和精度兼顾,极大的缩短检测周期,实现精度最大化。Leitz Reference BX集成了4轴联动扫描功能,非接触式白光传感器和传感器自动更换系统,还可支持超高精度的接触式传感器来满足严苛的测量公差要求,以及非接触式检测难以接近的特征。

方案优势:

Leitz Reference BX采用高精度纳米级光学镜头测头PRECITEC 基于光谱共焦原理进行测量。

传感器采用白光作为光源照射被测部件的表面。光源由CHRocodile控制单元生成,通过光纤传送到探头,然后探头把白光色散聚焦成一排离散的焦距形成完整的光谱。不同波长对应不同的焦距。只有焦点在工件表面的波长才能被识别系统识别,从而得到其所代表的精确距离。

光学传感器和连续定位转台的组合,可捕获这些零件所有被测要素。由于采用白光光学传感器,系统能够测量精度可达 < 1μm。

方案应用:高速叶片测量

在一个检测周期内,接触式测量和非接触式测量各司其职,Precitec S3光学传感器用于高速测量叶型,而HP-S-X1C固定扫描测头用于精确检查榫头截面。利用专业的叶片检测模块QUINDOS Blade可以简化叶片前缘半径、弦切线、叶型厚度、叶型、叶根和平均外弧线的测量,提高检测效率。Leitz Reference BX测量方案可以测量最高900mm的各种叶片,与传统的接触式检测相比,最多可节省50%的测量时间。

技术特点:

全自动更换传感器

- 使用 SENMATION SX 可完成接触式传感器HP-S-X1C与白光共聚焦传感器 Precitec S3自动更换

- 在程序中可进行全自动更换传感器,无需额外校准

光学传感器 Precitec S3

- 超精密非接触式测量,适用于敏感、柔软物料

- 验收角度 90°±30°@ 3毫米工作范围, 可测量非常斜的表面

- 可对色散、反射、倾斜、弯曲和非球面的测量

集成式转台

- 工件从四面可及

- 无限定位允许工件在任何期望的角度测量

- 4轴扫描可实现连续高密度数据采集

- 可以用或不用转台进行托盘式测量

- 由于减少了测头更换次数,从而提高了生产率

强大的计量软件QUINDOS 

- 是风扇叶片非接触测量高效的解决方案

- 实现接触式与非接触式(Precitec) 组合实现最佳测量

- 可在不同阶段测量叶片的所有特征

- QUINDOS软件中参数化的零件程序包括与自动化的连接

- 为生产车间操作人员特殊定制的用户界面

- 与标准CMM相比测量时间缩短约50%

- 使用参数化方法创建简单的零件程序